Fulltext available Open Access
License: 
Title: Subpixelgenaue Kantendetektion für ein Bildmesssystem
Language: German
Authors: Tamou, Steve Herve Feutat 
Keywords: Konturensammlung
Issue Date: 5-Apr-2016
Abstract: 
Ein Verfahren, welches Objektkonturen von 2-dimensionalen Objekten subpixelgenau identifizieren kann, wird in dieser Arbeit konstruiert. Es werden ein Gradient basiertes und ein 2. Ableitung Verfahren verwendet. Hierfür wird mithilfe einer Datenbank ein Vergleich zwischen realen und ermittelten Konturpositionen gezogen und die Abweichung zwischen diesen berechnet. Durch geringe Abweichung kann das verwendete Verfahren getestet werden. Formabweichungen sind im Verfahren berücksichtigt.
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12738/7285
Institute: Department Informatik 
Type: Thesis
Thesis type: Bachelor Thesis
Advisor: Meisel, Andreas 
Referee: Baran, Reinhard 
Appears in Collections:Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat
BA_Tamou.pdf1.93 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record

Page view(s)

119
checked on Mar 29, 2024

Download(s)

629
checked on Mar 29, 2024

Google ScholarTM

Check

HAW Katalog

Check

Note about this record


Items in REPOSIT are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.