Laser Scanning Microscopy Flatfield Images Part I: Characterization of Noise Properties
URL | http://edoc.sub.uni-hamburg.de/informatik/volltexte/2009/59/ |
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Dokumentart: | Report (Bericht) |
Schriftenreihe: | Berichte des Fachbereichs Informatik der Universität Hamburg |
Bandnummer: | 255 |
Sprache: | Englisch |
Erstellungsjahr: | 2003 |
Publikationsdatum: | 03.11.2009 |
SWD-Schlagwörter: | Bilderkennung |
DDC-Sachgruppe: | Informatik |
BK - Klassifikation: | 54.74 |
Kurzfassung auf Englisch:
Noise may be a great obstacle to automatic processing and analysis of measured data. In order to reduce noise several methods exist. However, all of the individual methods have their strengths and weaknesses, which may heavily depend on the origin of data to be processed. Therefore, in certain circumstances it may be a necessity to characterize the properties of the noise present in the data of interest, and then select the most suitable method for either pre-processing or direct analysis based on that information. This is especially true in the context of automatic image analysis. This first part of a report pair examines in a detailed manner the noise properties of two dedicated 2D flatfield digital image series acquired with a multi photon laser scanning microscope (MPLSM). The main result is that noise in the given images varies notably with local pixel intensity, and that this fact should be kept in mind when processing image data acquired by this instrument.
Kurzfassung auf Deutsch:
Rauschen kann eine automatische Verarbeitung oder Analyse von gemessenen Daten erheblich behindern. Es existieren zwar zahlreiche Methoden zur Reduktion von Rauschen, jedoch besitzt jede einzelne Methode ihre speziellen Stärken und Schwächen, welche stark vom jeweiligen Ursprung der zu verarbeitenden Daten abhängen können. Deshalb kann es im Einzelfall notwendig sein, die Eigenschaften des Rauschens in den Daten zu charakterisieren, um dann eine geeignete Methode der Vorverarbeitung oder der direkten Analyse auszuwählen. Dies gilt besonders im Falle automatischer Datenanalyse. In diesem ersten Teil eines Bericht-Paares werden in detailierter Weise die Rausch- Eigenschaften zweier sog. Flatfield-Bildserien untersucht. Diese Bildserien wurden mittels Multiphotonen-Laser-Rastermikroskopie (MPLSM) gewonnen. Das Hauptergebnis dieser Arbeit ist, dass in den untersuchten Bildern das Rauschen deutlich mit der lokalen Pixel-Intensität variiert. Diese Tatsache sollte beachtet werden, wenn mit dem verwendeten Mikroskop aufgenommene Bilddaten verarbeitet werden sollen.
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